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Fachbeitrag: ELV-IC-Tester

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  • 204452
  • 1988-58-02
Der ELV-IC-Tester ermöglicht den logischen Funktionstest fast aller CMOS- und TTL-Standard-Bauteile, die in einem bis zu 20poligen DIL-Gehäuse untergebracht sind. Der IC-Tester ist als Einsteckkarte für den IBM-PC-XT/AT und Kompatible konzipiert. Außerdem wird in diesem Artikel das Serviceprogramm vorgestellt, um die über 500 in Frage kommenden Standardbauteile überprüfen zu können.
Bausatzinformationen
ELVjournal
58 / 1988
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Inhalt

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ELV-IC-Tester
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